强强联合 | 国检检测&徕卡显微镜合办金相技术论坛，洞察材料失效微观本质

10月31日，国检检测与徕卡显微镜携手于杭州成功举办“金相质控 质胜未来”技术论坛。本次论坛聚焦“显微观察及失效分析”前沿领域，汇聚材料、制造与科研领域的专家与技术精英，共同打造了一场高水平、深层次的技术交流盛会。

本次论坛荣幸邀请到两位技术领域的资深专家，呈现了一场精彩的技术盛宴。浙江大学博士生导师、理学博士、浙江省电镜微结构学会理事长李吉学教授，作了题为《金属材料的显微结构原位测试技术》的专题报告。他系统阐释了该技术对材料微观结构的动态观测能力，为揭示失效机理提供了关键支撑，推动了材料研究从静态表征到动态分析的跨越。英华检测（上海）有限公司技术总监、国内射线无损检测资深专家苏宇杰先生，则围绕《高分辨CT在材料微观结构和缺陷分析中的应用》展开分享。他生动展示了高分辨CT技术如何无损透视材料内部三维结构、精准定位微观缺陷，为失效分析提供了全新的视角与精准利器。

随后，5位技术专家相继登台，分享了各自领域的专业见解。

茶歇时的轻松氛围，成为技术交流的“催化剂”。或在徕卡体验区实操尖端设备，或在国检答疑区探讨疑难案例，大家在分享经验与思维碰撞中，实现了难得的互学互鉴。

本次论坛成功链接了技术、设备与人才，成为推动行业创新与合作的重要平台。展望未来，我们期待以更精准、更高效的检测分析方案为核心，持续开展系列技术交流活动，深入分享前沿技术应用经验，共同推动行业质量水平提升，为制造业高质量发展持续赋能。